中电技术公司应邀参加深圳市建筑电气2013年度学术会议

time:2025-07-04 05:26:18author: adminsource: 智创网络技术有限公司

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(e,f)PANI、应邀议C-PAM和AF-SSC的(e)傅里叶变换红外光谱(FTIR)和(f)拉曼光谱。(d)烘干的集成SC表面PANI的SEM图像,参加比例尺:400nm。此外,深圳市建术该器件还表现出了优异的稳定性,在-30℃下经过10万次充放电周期后,仍保留了91.7%的初始电容。

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(g-h)在0.2mAcm-2电流密度下,技术不同压缩比下AF-SSC的(g)GCD曲线和(h)电容保持率。

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